實(shí)驗(yàn)室常用低溫裝置

實(shí)驗(yàn)室常用低溫裝置將給廣大需求顧客提供預(yù)測(cè)和改進(jìn)產(chǎn)品質(zhì)量獲得可靠性的試驗(yàn)依據(jù)。通過(guò)此設(shè)備的測(cè)試可以評(píng)估各類試品在設(shè)定的人工模擬環(huán)境條件下的綜合性能與技術(shù)指標(biāo)的變化。

可選擇的測(cè)試溫度范圍：

A：0℃ ～+150℃。

B：-20℃ ～+150℃。

C：-40℃ ～+150℃。

D：-70℃ ～+150℃。

濕度范圍：20%～98%R.H. 可根據(jù)要求訂做至10-98﹪R.H(非標(biāo)要求訂做)。

彩色觸模屏控制器超大容量編輯，可儲(chǔ)存120組，1200段，并且直接連接電腦做報(bào)表以及觀察溫濕度曲線圖，設(shè)置人性化。

實(shí)驗(yàn)室常用低溫裝置執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)：

電子電工GB/T2423、高低溫濕熱交變等試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)。

GB/T 2423.1-2008《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)A：低溫》。

GB/T 2423.3-2006《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Cab：恒定濕熱試驗(yàn)》。

GB/T 2423.2-2008《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)B：》。

GB/T 2423.4-2008《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Db交變濕熱(12h + 12h循環(huán)) 》。

 IEC68-2-1（GB2423.1-2001）、GJB150.3-86、GB2424.2-1993、GB/T5170.2-1996。

以上恒溫濕箱、恒溫濕試驗(yàn)箱的規(guī)格型號(hào)或者有非標(biāo)要求的顧客均可聯(lián)系生產(chǎn)直銷廠家東莞市柳沁檢測(cè)儀器有限公司咨詢。