電子器件高低溫沖擊試驗箱

電子器件高低溫沖擊試驗箱是提供給電子器件在瞬間下經(jīng)*溫及極低溫的連續(xù)環(huán)境下忍受的程度，得以在最短時間內(nèi)檢測試樣因熱脹冷縮所引起的化學(xué)變化或物理傷害。本試驗箱不僅適合電子器件使用,還是光電、金屬、塑料、LED、橡膠、電子等工業(yè)材料行業(yè)*的試驗設(shè)備，結(jié)構(gòu)分為兩箱式和三箱式，區(qū)別在于試驗方式和內(nèi)部結(jié)構(gòu)不同，產(chǎn)品符合標(biāo)準(zhǔn)為：GB-T10592-2008、GB/T2423.2-2008試驗B、GB/T2423.1-2008試驗A 、GJB150.3-198、GJB360A-96方法107溫度沖擊試驗的要求。

技術(shù)參數(shù):

1.內(nèi)箱尺寸最小：W350mm*H400mm*D350mm(本公司還有眾多標(biāo)準(zhǔn)尺寸可選擇,也可定制非標(biāo)尺寸）

2.外箱尺寸：以實際尺寸為標(biāo)準(zhǔn)。

3.高溫槽預(yù)熱溫度范圍：+60℃～200℃；

4.升溫時間： +60℃～200℃≤30min；

5.低溫槽預(yù)冷溫度范圍： -75～-10℃；

6.降溫時間： +20℃～-75℃≤60min；﹙注：降溫時間為低溫槽單獨運轉(zhuǎn)時的性能﹚

7.試驗方式： 氣動風(fēng)門切換

8.溫度沖擊范圍： ﹙+60℃～+150℃﹚/﹙-65℃～-10℃﹚

9.溫度偏差： ±2.0℃

10.溫度波動度： ±0.5℃

11溫度恢復(fù)時間： ≤5分鐘

12.試樣限制：本實驗設(shè)備禁止易爆、易燃、易揮發(fā)性物質(zhì)試樣的試驗或儲存；腐蝕性物質(zhì)試樣的試驗或儲存；

電子器件高低溫沖擊試驗箱破壞能力*，功率比普通高低溫試驗箱高出許多倍。所以技術(shù)難度及成本也相對高許多。該試驗設(shè)備主要用于對電工、電子產(chǎn)品，以及其元器件等各類產(chǎn)品按照國家標(biāo)準(zhǔn)要求或用戶自定要求，在高溫與低溫瞬間變化條件下，對原產(chǎn)品的物理以及其他相關(guān)特性進(jìn)行環(huán)境模擬試驗，試驗后，通過檢測，來判斷相關(guān)產(chǎn)品的性能是否仍然能夠符合預(yù)定要求，以便供各類產(chǎn)品的設(shè)計、改進(jìn)、鑒定及出廠檢驗用。如有需要請找生產(chǎn)廠家東莞市柳沁檢測儀器有限公司,價格及質(zhì)量上有優(yōu)勢,歡迎前來咨詢,謝謝。